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微分干涉（DIC）

微分干涉（DIC）

适用于检测高度差异极其微小的样本，包括金相组织、
矿物、磁头研磨面和硬盘表面及晶圆研磨面。

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产品特点

    不必考虑相差环及聚光镜环的遮挡，可以实现高数值孔径的物镜观察，提高轴向分辨率
    所观察到的样品各组成相间的相对层次关系突出，表现出浮雕或三维图像
产品特点
产品参数
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