光芯片AOI检测需借助高分辨率自动对焦光学系统，捕捉芯片表面形貌，再结合图像处理技术自动识别缺陷，如划痕、污染、结构偏差，和尺寸误差等。该检测方式的核心在于高速、非接触式的精准检测，通过高分辨率光学镜头捕捉光芯片表面的微观形貌，结合特定波长光源增强缺陷对比度，实时动态对焦，确保不同位置、角度的芯片表面均能清晰成像。

通过高分辨率光学镜头捕捉光芯片表面的微观形貌，结合特定波长光源增强缺陷对比度，实时动态对焦，确保不同位置、角度的芯片表面均能清晰成像。

相机：工业相机

传感器：慕藤光660nm线激光对焦传感器MALF-7V

物镜：20倍物镜：MA-10F

图：自动对焦光学系统

图：慕藤光大视场光学系统成像解决方案-光芯片检测效果图

一次性完成多芯端面所有光纤的检测，包括自动对焦、居中、曝光和测量，单次检测速度≤5秒。

针对光纤端面检测设备的光学系统倍率高，镜头景深小、夹具精度不一致导致光纤端面与光轴不垂直，进一步加剧离焦、成像困难；采用慕藤光大视场对焦光学系统，通过激光测距对焦法，实现自动对焦的动态补偿、实时测量，确保所有检测样品均在获得清晰成像。

相机：大靶面工业相机

传感器：慕藤光660nm线激光对焦传感MALF-7V

镜管：大视场镜管MT-M44-S

物镜：10倍物镜

图：慕藤光大视场自动对焦光学系统

图：光纤端面外观检测合格VS不合格

图：多芯光纤端面外观检测合格VS不合格

在5G与AI主导的时代浪潮下，光芯片与光纤的品质，成为决定数据传输速率与稳定性的核心要素。慕藤光凭借其自主研发的智能光学检测系统，实现了对光芯片AOI检测、光纤端面的细微缺陷的快速精准识别，有力推动了生产效率与产品可靠性的提升。随着数据传输需求的爆发式增长，慕藤光将持续深耕检测技术，深度融合AI智能分析，致力于为光通信行业提供更高效、智能的解决方案，为全球算力网络的高速、稳定运行注入强劲动力。